Analytické metody a měření

Díky naší dlouhodobé spolupráci s univerzitami a výzkumnými subjekty jsme schopni zajistit komplexní materiálovou analýzu. Naše produkty je možné zkoumat všemi níže popsanými metodami, které jsou poskytovány regionálním centrm pokročilých technologií a materiálů (RCPTM). V případě požadavku dalších speciálních měření se na nás neváhejte obrátit.

Mössbauerova spektroskopie (MS)

Potřebujete zjistit oxidační stavy železa ve vzorku a jejich poměrné zastoupení?

Mössbauerova spektroskopie je extrémně citlivou gamma-spektroskopickou metodou, která je schopna poskytnout jak chemickou, tak fyzikální strukturní informaci. Pomocí MS lze analyzovat a kvantifikovat i velmi nízké koncentrace daného prvku (nejčastěji železa). Neboť se jedná o metodu založenou na statistickém zpracování signálu, může jedno měření trvat několik dní.

Rentgenová prášková difrakce (XRD)

Chcete studovat krystalickou strukturu a fázové složení vzorku?

Rentgenová prášková difrakce je nedestruktivní fyzikální technikou běžně využívanou ke studiu struktury a fázového složení krystalických materiálů a pro určení velikosti krystalových struktur v nanomaterálech. Ve spojení s s vysokoteplotní/rakční komorou lze pomocí XRD provádět výše zmíněná měření také za nestandardních podmínek (tj. zvýšené teploty a/nebo tlaku), a také studovat in-situ reakce v pevné fázi.

Rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS)

Zajímá vás prvkové složení povrchu vzorku?

Rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS) patří mezi pokročilé nedestruktivní metody pro určení prvkového složení povrchu (ESCA – elektronová spektroskopie pro chemickou analýzu). Vyniká schopností identifikovat atomární složení povrchových vrstev materiálu, a také určit oxidační stav detekovaných atomů.

Dynamický rozptyl světla (DLS)

Je vaším cílem studium chování koloidu v roztoku?

Dynamický rozptyl světla (DLS) umožňuje přesně určit průměrnou velikost a velikostní distribuci částic a charakterizovat vysoce koncentrované systémy s velikostí částic mezi 0,6 nm a 6 µm. Měření může být prováděno při 2-90 °C. Za pomoci metody PALS (Fázová analýza dynamickým rozptylem) lze také měřit zeta-potenciál částic o velikosti 3,8 nm až 100 µm.

Plocha povrchu pevných látek (BET)

Potřebujete určit plochu povrchu vašeho vzorku?

Metody na bázi fyzisorpce slouží k měření plochy povrchu a velikosti pórů u mikro- a mezoporézních materiálů (sorpční plyny dusík a krypton). Jsou použitelné pro vzorky s měrnou plochou povrchu od 0,2 m²/g (dusík) a 0,005 m²/g (dusík) - odchylka měření je 2-3 % - a pro vzorky s velikostí pórů od 0,35 nm. Příprava vzorku spočívá v jeho odplynění a zahřátí na teplotu až 450 °C.